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標題:鼎陽SNA5000X系列矢量網(wǎng)絡(luò)/頻譜分析儀
產(chǎn)品概述
鼎陽SNA5000X系列矢量網(wǎng)絡(luò)/頻譜分析儀
1.低噪聲,高動態(tài)范圍
系統(tǒng)動態(tài)范圍是VNA一個非常重要的指標,它是VNA源的大輸出功率與測試端口本底噪聲的差值。SNA5000X的動態(tài)范圍可達125dB@10Hz IFBW,接收機噪底-125dBm/Hz,可適用于對動態(tài)范圍要求比較高的測試場景,比如同時測量濾波器的通帶和帶外抑制性能。
2.從S參數(shù)測試到平衡-不平衡測試
SNA5000X系列支持在多個窗口添加多條跡線進行全4端口S參數(shù)測試,并且具備多種顯示格式,比如 Log Mag,Lin Mag,Phase,Delay,Smith,SWR,Polar等,可以方便快捷地分析被測物的傳輸系數(shù),反射系數(shù),駐波比,阻抗匹配,相位,延時等參數(shù)。在生產(chǎn)線驗證天線,濾波器等的特性時,還可以保存參考跡線或者添加Limit模板進行通過失敗測試,有利于提高生產(chǎn)效率。
SNA5000X系列還支持端口阻抗變換功能,比如在測試有源差分放大器時,可將輸入輸出端口進行阻抗變換,從而進行差分(平衡)測量(比如Scc,Sdd,Scd,Sdc等參數(shù))。 此功能還可應(yīng)用于差分線纜等其他差分類測試。
3.時域分析功能
SNA5000X系列支持TDR時域反射計測量功能,可在時域?qū)鬏斁€的特征阻抗,時延等參數(shù)進行分析。
4.眼圖分析
SNA5000X搭載了眼圖功能,眼圖可以反映信號鏈路上傳輸?shù)臄?shù)字信號的整體特征,從中觀察出碼間串?dāng)_和噪聲的影響,進而估計系統(tǒng)的優(yōu)劣程度。眼圖分析是高速系統(tǒng)信號完整性分析的核心,為需要對高速信號進行時域分析的客戶節(jié)省了大量成本和時間。
5.消除夾具效應(yīng)
在微波射頻領(lǐng)域,如何有效消除有害的測試夾具效應(yīng)是一大挑戰(zhàn)。比如在對SMD器件進行測試時需要特定的測試夾具實現(xiàn)測試儀器測試端與器件輸入端的轉(zhuǎn)接,導(dǎo)致測試結(jié)果中包含了測試夾具的特性。目前SNA5000X系列提供的去除測試夾具影響的方法主要有:端口延伸,端口匹配,端口阻抗轉(zhuǎn)換,去嵌入,適配器移除等。
6.校準件
校準是VNA進行可靠測量前必須進行的步驟。鼎陽科技目前可提供8種SOLT機械校準件,分為經(jīng)濟級校準件和精密級校準件。校準頻率范圍涵蓋DC~9GHz,接口類型包含SMA和N型。并且SNA5000X系列還可支持其他廠家的校準件及客戶自定義校準件的導(dǎo)入,從而保護客戶對校準件的投資。
鼎陽SNA5000X系列矢量網(wǎng)絡(luò)/頻譜分析儀主要特性
頻率范圍:9 kHz ~ 4.5/8.5 GHz
輸出功率設(shè)置范圍: -55 dBm ~ +10 dBm
動態(tài)范圍:125dB
支持2/4端口S參數(shù)測量、差分(平衡)測量、時域分析
支持濾波器插入損耗、帶寬、Q值等一鍵測量
支持端口阻抗轉(zhuǎn)換、端口擴展、夾具仿真和去嵌入功能
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